影響超聲波測(cè)厚儀測(cè)量精度的幾個(gè)原因

超聲波測(cè)厚儀采用zui新的高性能、低功耗微處理器技術(shù)，基于超聲波測(cè)量原理，可以測(cè)量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測(cè)量。在我們實(shí)際使用超聲波測(cè)厚儀的時(shí)候，通常會(huì)遇到測(cè)量不夠精確的問(wèn)題。

比如溫度。超聲波測(cè)厚儀材料的聲速會(huì)隨著材料溫度的變化而發(fā)生變化。如果儀器的校準(zhǔn)是在溫度相對(duì)較低的環(huán)境中進(jìn)行的，而儀器的使用卻在溫度相對(duì)較高的環(huán)境中，這種情況下就會(huì)使檢測(cè)結(jié)果偏離真實(shí)值。要避免溫度的這種影響，方法是校準(zhǔn)儀器時(shí)用高溫探頭來(lái)處理。

   

影響超聲波測(cè)厚儀測(cè)量精度的原因有很多方面，下面是常見的幾種：

(1) 覆蓋層厚度大于25μm時(shí),其誤差與覆蓋層厚度近似成正比；

(2) 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)；

(3) 任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響；

(4) 渦流測(cè)厚儀對(duì)式樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng)，即對(duì)靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的；

(5) 試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大；

(6) 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度,粗糙度增大,影響增大。被測(cè)件的表面粗糙程度對(duì)測(cè)厚儀有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。

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